插回损仪
插回损测试仪是高精度、宽量程的光器件检测设备。采用智能化微处理器控制，内含高稳定性光源和高精度功率计模块。光功率计采用新的数据采集技术，具有更大的信噪比和更大的动态范围。在小信号时，内部电路采用小电阻加屏蔽技术，因此具有更高的灵敏度，功率测量范围+5～-75dBm。内置光源模块关键器件是采用同轴或蝶形DFB激光器，以保证高性能的光谱效率和功率稳定性。该设备广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
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参数 |
条件 |
最小 |
典型 |
最大 |
单位 |
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光源波长 |
Δλ |
1310/1550(可选650/850/1300) |
nm |
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光源输出端口功率 |
PO |
-- |
-3 |
|
dBm |
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光源功率稳定性(15分钟) |
ΔPO_15m |
-- |
±0.01 |
±0.03 |
dB |
|
光源功率稳定性(8小时) |
ΔPO_8h |
-- |
±0.03 |
±0.05 |
dB |
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光源输出接口 |
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FC/APC |
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功率计探测器大小 |
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2 |
|
|
mm |
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探测范围 |
850 |
-65 |
-- |
5 |
dBm |
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980/1060 |
-70 |
-- |
5 |
dBm |
|
|
其它 |
-75 |
-- |
5 |
dBm |
|
|
回损测试范围 |
850nm |
60 |
|
|
dB |
|
其它波长 |
70 |
|
|
dB |
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功率计测试波长 |
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850 |
|
1700 |
nm |
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功率计测量不确定度 |
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-- |
-- |
±3 |
% |
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回损测试波长 |
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1310/1550 |
nm |
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回损分辨率 |
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0.1 |
dB |
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回损测试精度 |
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-- |
-- |
±0.5 |
dB |
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屏幕刷新速度 |
T |
100 |
-- |
500 |
ms |
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工作电压 |
V |
110 |
-- |
240 |
VAC/50Hz |
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功耗 |
Pc |
-- |
-- |
30 |
W |
|
工作温度 |
TW |
15 |
-- |
35 |
°C |
|
储藏温度 |
TS |
-5 |
-- |
40 |
°C |
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通讯接口 |
RS232 |
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外观尺寸 |
300*270*140mm |
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