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1O8A3663-1

插回损仪

插回损测试仪是高精度、宽量程的光器件检测设备。采用智能化微处理器控制,内含高稳定性光源和高精度功率计模块。光功率计采用新的数据采集技术,具有更大的信噪比和更大的动态范围。在小信号时,内部电路采用小电阻加屏蔽技术,因此具有更高的灵敏度,功率测量范围+5~-75dBm。内置光源模块关键器件是采用同轴或蝶形DFB激光器,以保证高性能的光谱效率和功率稳定性。该设备广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。

参数

条件

最小

典型

最大

单位

光源波长

Δλ

1310/1550(可选650/850/1300)

nm

光源输出端口功率

PO

--

-3

 

dBm

光源功率稳定性(15分钟)

ΔPO_15m

--

±0.01

±0.03

dB

光源功率稳定性(8小时)

ΔPO_8h

--

±0.03

±0.05

dB

光源输出接口

 

FC/APC

功率计探测器大小

 

2

 

 

mm

探测范围

850

-65

--

5

dBm

980/1060

-70

--

5

dBm

其它

-75

--

5

dBm

回损测试范围

850nm

60

 

 

dB

其它波长

70

 

 

dB

功率计测试波长

 

850

 

1700

nm

功率计测量不确定度

 

--

--

±3

%

回损测试波长

 

1310/1550

nm

回损分辨率

 

0.1

dB

回损测试精度

 

--

--

±0.5

dB

屏幕刷新速度

T

100

--

500

ms

工作电压

V

110

--

240

VAC/50Hz

功耗

Pc

--

--

30

W

工作温度

TW

15

--

35

°C

储藏温度

TS

-5

--

40

°C

通讯接口

RS232

外观尺寸

300*270*140mm